產(chǎn)品樣本應(yīng)用文章
零件淬火后總是會(huì)多多少少的留出一些未轉(zhuǎn)換的殘余奧氏體。太多的殘余奧氏體對(duì)零件的使用期限和強(qiáng)度不好，會(huì)導(dǎo)致軟點(diǎn)和規(guī)格的多變性，但適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體能夠提升零件的疲勞強(qiáng)度。我們可以經(jīng)過(guò)控制殘余奧氏體來(lái)控制產(chǎn)品品質(zhì)和使用期限，以做到預(yù)期目標(biāo)。 1. 殘余奧氏體對(duì)各種零件的影響 （1）滾動(dòng)軸承規(guī)定有優(yōu)良的耐磨性能、高的翻轉(zhuǎn)疲勞強(qiáng)度合好的外形尺寸精密度可靠性，在常見(jiàn)應(yīng)力水準(zhǔn)下殘余奧氏體對(duì)疲憊使用壽命影響并不大。具體制造中45號(hào)鋼淬火后，一般不歷經(jīng)冷處理。 （2）傳動(dòng)齒輪一般都不需冷處理。殘余奧氏體有益于其疲倦使用壽命的提升。 （3）對(duì)工具鋼，殘余奧氏體可提升抗沖擊性。針對(duì)切削刀具，殘余奧氏體減少?gòu)?qiáng)度使加工性受到影響。對(duì)鉆頭、銑刀等關(guān)鍵承擔(dān)扭曲應(yīng)力的專(zhuān)用工具，適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體是有益的。對(duì)工作壓力生產(chǎn)的模具鋼，特別是在沖針適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體是有利的。殘余奧氏體相對(duì)性于馬氏體而言，殘余奧氏體似海棉，可緩存沖擊性，提升延展性，提升表層觸碰疲勞強(qiáng)度，增加沖針使用期限。 （4）對(duì)測(cè)量?jī)x器，殘余奧氏體不利確保規(guī)格精密度，務(wù)必用冷處理盡量地清除殘余奧氏體。 2. 殘余奧氏體影響各種因素 伴隨著鋁合金因素的提升 ，碳含量的提升，淬火正中間滯留或制冷速率遲緩，淬火溫度提升，都是會(huì)使殘余奧氏體提升。淬火時(shí)制冷終斷并等溫過(guò)程滯留，會(huì)使馬氏體最后變化量少，殘余奧氏體增加，這就是奧氏體的熱防老化。碳含量在過(guò)共析鋼點(diǎn)0.8上下，殘余奧氏體在25%下列，殘余應(yīng)力為壓應(yīng)力。零件滲碳后表層碳含量高，淬火后殘余奧氏體增加。 決策殘余奧氏體成分的首要要素分別是： （1）原料鋁合金因素的影響：Mn、Ni、Cr鋁合金元素使淬火后殘余奧氏體提升。 （2）原料碳成分提升，使殘余奧氏體提升。 （3）熱處理方法上，奧氏體化溫度提升，淬火溫度提升，淬火終止溫度提升，淬火制冷速率變?nèi)酰慊鹫虚g滯留，都是會(huì)使殘余奧氏體提升。在零件原材料明確的根基上，熱處理工藝適度減少淬火溫度，提升冷處理（持續(xù)淬火）等全是降低殘余奧氏體的合理對(duì)策。零件經(jīng)淬火冷處理回火后殘余奧氏體均≤10%，GCr1545號(hào)鋼一般在5%上下。
樣品材料的非晶、準(zhǔn)晶和晶體三者的結(jié)構(gòu)在XRD圖譜上并無(wú)嚴(yán)格明晰的分界。 在X射線衍射儀獲得的XRD圖譜上，如果樣品是較好的"晶態(tài)"物質(zhì)，圖譜的特征是有若干或許多個(gè)一般是彼此獨(dú)立的很窄的"尖峰"（其半高度處的2θ寬度在 0.1°~0.2°左右，這一寬度可以視為由實(shí)驗(yàn)條件決定的晶體衍射峰的"小寬度"）。如果這些"峰"明顯地變寬，則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小于 300nm，可以稱(chēng)之為"微晶"。 晶體的X射線衍射理論中有一個(gè)Scherrer公式：可以根據(jù)譜線變寬的量估算晶粒在該衍射方向上的厚度。 非晶質(zhì)衍射圖的特征是：在整個(gè)掃描角度范圍內(nèi)（從2θ 1°~2°開(kāi)始到幾十度）只觀察到被散射的X射線強(qiáng)度的平緩的變化，其間可能有一到幾個(gè)大值；開(kāi)始處因?yàn)榻咏鄙涔馐鴱?qiáng)度較大，隨著角度的增加強(qiáng)度迅速下降，到高角度強(qiáng)度慢慢地趨向儀器的本底值。 從Scherrer公式的觀點(diǎn)看，這個(gè)現(xiàn)象可以視為由于晶粒極限地細(xì)小下去而導(dǎo)致晶體的衍射峰極大地寬化、相互重疊而模糊化的結(jié)果。晶粒細(xì)碎化的極限就是只剩下原子或離子這些粒子間的"近程有序"了，這就是我們所設(shè)想的"非晶質(zhì)"微觀結(jié)構(gòu)的場(chǎng)景。非晶質(zhì)衍射圖上的一個(gè)大值相對(duì)應(yīng)的是該非晶質(zhì)中一種常發(fā)生的粒子間距離。 介于這兩種典型之間而偏一些"非晶質(zhì)"的過(guò)渡情況便是"準(zhǔn)晶"態(tài)。
殘余應(yīng)力對(duì)工件有很大的危害，會(huì)使工件發(fā)生變形甚至是斷裂，而工件一旦發(fā)生變形就會(huì)對(duì)使用精度造成影響，所以消除殘余應(yīng)力顯得尤為重要。 縱觀全球相關(guān)領(lǐng)域，消除殘余應(yīng)力的方法大約有四種： 第一種是自然時(shí)效，通過(guò)自然放置消除殘余應(yīng)力，這種方法耗時(shí)過(guò)長(zhǎng)，難以適應(yīng)現(xiàn)代科技及生產(chǎn)需要； 第二種是傳統(tǒng)的方法——熱時(shí)效法，把工件放進(jìn)熱時(shí)效爐中進(jìn)行熱處理，慢慢消除殘余應(yīng)力。但這種方法的缺點(diǎn)也非常的顯著，對(duì)要求非常嚴(yán)格的工件或者是大型工件都無(wú)法用這種方法處理，而且這種方法還帶來(lái)了大量的污染和能源消耗，隨著中國(guó)及世界范圍內(nèi)對(duì)環(huán)保的進(jìn)一步要求，熱時(shí)效爐的處理方式馬上面臨全面退出的境地。 第三種是利用亞共振來(lái)消除殘余應(yīng)力，這種方法雖然解決了熱時(shí)效的環(huán)保問(wèn)題，但是使用起來(lái)相當(dāng)繁瑣。更令人遺憾的是這種方法只能消除23%的工件應(yīng)力，無(wú)法達(dá)到處理所有工件的目的。 第四種是振動(dòng)時(shí)效消除殘余應(yīng)力，是通過(guò)機(jī)械組裝使之形成了一整套消除應(yīng)力設(shè)備，它可以使工件在短時(shí)間內(nèi)達(dá)到消除應(yīng)力的作用，覆蓋所有需要消除應(yīng)力的工件。用頻譜分析優(yōu)選五個(gè)頻率以多振型的處理方法達(dá)到消除工件應(yīng)力的目的，所有形狀大小的工件都可以使用這種設(shè)備完成，將激振器夾在工件上進(jìn)行振動(dòng)就可以達(dá)到消除應(yīng)力的效果。 以上就是消除殘余應(yīng)力方法介紹，如果您有殘余應(yīng)力的分析需求或其他應(yīng)用問(wèn)題，歡迎咨詢(xún)利曼中國(guó)。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的技術(shù)開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)的分析需求。 STRESS-X的衍射單元安裝在6自由度機(jī)械臂上，可方便對(duì)各種形狀和尺寸的樣品進(jìn)行檢測(cè)，同時(shí)配有非接觸自動(dòng)激光準(zhǔn)直系統(tǒng)提高定位精度，整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)可封裝在艙體中或安裝在四輪合金推車(chē)上用于現(xiàn)場(chǎng)分析；EDGE的特點(diǎn)則為小巧便攜、不受電源線束縛，另可擴(kuò)展完成殘余奧氏體和相位檢測(cè)。兩款儀器均符合ASTM E915及EN 15305國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，
1. 降低殘留奧氏體對(duì)策 一般熱處理工藝淬火后開(kāi)展馬氏體變化，與此同時(shí)難以避免還會(huì)發(fā)生殘留奧氏體。要清除或控制殘留奧氏體，關(guān)鍵有下列幾類(lèi)方式 ： （1）提升冷處理。冷處理是淬火得持續(xù)其本質(zhì)是減少制冷終止溫度，使殘留奧氏體進(jìn)一步轉(zhuǎn)換為馬氏體。這在GCr15的柱塞偶件中普遍應(yīng)用，是促進(jìn)殘留奧氏體變化的有效的方式 。一般殘留奧氏體控制在10%之內(nèi)。 （2）用馬氏體淬火替代馬氏體淬火，即提升淬火終止溫度，一般在Ms點(diǎn)周邊等溫過(guò)程，使反應(yīng)轉(zhuǎn)化成金相組織和滲碳體產(chǎn)生的纖維狀下馬氏體的類(lèi)均衡機(jī)構(gòu)，因不開(kāi)展馬氏體變化，而降低殘留奧氏體。 （3）熱處理方法主要參數(shù)調(diào)節(jié)：①高碳鋼滲碳時(shí)控制碳勢(shì)，控制表層碳成分，控制氮碳化學(xué)物質(zhì)及滲碳體等級(jí)，進(jìn)而控制殘留奧氏體。②減少奧氏體化淬火溫度，淬火后馬上回火，也可降低殘留奧氏體的成分。③提升回火溫度。可讓鋼中殘留奧氏體變化為馬氏體或溶解，進(jìn)而降低殘留奧氏體。小于200℃回火，鋼中殘留奧氏體不溶解。歷經(jīng)200～300℃回火，鋼中殘留奧氏體逐漸轉(zhuǎn)化為下馬氏體。高過(guò)300℃回火，鋼中殘留奧氏體徹底溶解。在高速鋼560℃回火制冷時(shí)一部分殘留奧氏體產(chǎn)生馬氏體變化，提高硬度，降低殘留奧氏體。 （4）碳氮共滲時(shí)，氨氣及碳氮化合物造成 殘留奧氏體增加。選用滲碳+淬火加工工藝替代碳氮共滲淬火，歷經(jīng)冷處理后可使在500倍高倍放大鏡下人眼觀測(cè)不上，殘留奧氏體基本上低于10%或5%。 2. 生產(chǎn)制造應(yīng)用 在實(shí)際生產(chǎn)制造中，應(yīng)用于CB18、CPN2.2-0401挺圓柱體、滾軸軸套滲淬后殘留奧氏體的控制。根據(jù)控制氛圍，氨氣進(jìn)入量由40～80L/h,調(diào)節(jié)至20L/h；丙烷控制在200L/h，控制降低表層氮碳化學(xué)物質(zhì)及滲碳體。減少淬火溫度：由850℃調(diào)節(jié)至820～830℃，提升冷處理，回火溫度由180℃提升到200℃等一系列加工工藝主要參數(shù)調(diào)節(jié)對(duì)策，使結(jié)果大幅改進(jìn)，控制殘留奧氏體低于10%，做到技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
大米是我們?nèi)粘Ｉ钪凶畛Ｒ?jiàn)的主食主要糧食。隨著工業(yè)化、城市化的發(fā)展，城市及郊區(qū)的土壤成為重金屬的主要累積場(chǎng)所，土壤中的重金屬可通過(guò)“土壤－植物－人”的途徑進(jìn)入人體，對(duì)人體健康產(chǎn)生潛在威脅。如砷(As)、鎘(Cd)可引發(fā)人類(lèi)癌癥，已引起社會(huì)廣泛關(guān)注�！禛B 2762 食品安全國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) 食品中污染物限量》對(duì)大米中重金屬元素做出了嚴(yán)格的限量要求。 檢測(cè)手段包括ICP-MS、AAS、AFS等。其中， AFS、AAS一次只能測(cè)定一種元素，檢測(cè)多個(gè)元素多采用 ICP-OES或 ICP-MS法。但二者有著較為嚴(yán)重的基體、光譜及質(zhì)譜干擾。因此，找到一種可兼顧檢測(cè)效率、干擾小的檢測(cè)方法顯得尤為重要。 本文使用Horizon全反射熒光光譜儀，對(duì)大米標(biāo)樣中的K、Ca、Mn、Fe、Cu、Zn、As進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)常規(guī)微波消解及懸濁分散法兩種前處理方法對(duì)比，結(jié)果無(wú)明顯差異。
做XRD有什么用途，能看出其純度？還是能看出其中含有某種官能團(tuán)？ X射線照射到物質(zhì)上將產(chǎn)生散射。晶態(tài)物質(zhì)對(duì)X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時(shí)光束沒(méi)有被發(fā)散但方向被改變了而其波長(zhǎng)保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。 絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長(zhǎng)程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場(chǎng)景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。 X射線衍射（XRD）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)（如原子或離子及其基團(tuán)的種類(lèi)和位置分布，晶胞形狀和大小等）有力的方法。 XRD特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶態(tài)物質(zhì)組成元素或基團(tuán)如不相同或其結(jié)構(gòu)有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數(shù)目、角度位置、相對(duì)強(qiáng)度次序以至衍射峰的形狀上就顯現(xiàn)出差異。因此，通過(guò)樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對(duì)比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過(guò)對(duì)樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算，可以完成樣品物相組成的定量分析；XRD還可以測(cè)定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的織構(gòu)）等等，應(yīng)用面十分普遍、廣泛。 目前XRD主要適用于無(wú)機(jī)物，對(duì)于有機(jī)物應(yīng)用相對(duì)較少。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的技術(shù)開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)的分析需求。 可用于桌面的臺(tái)式衍射儀ERUOPE、性?xún)r(jià)比超高的大功率衍射儀APD 2000 PRO、功能強(qiáng)大的多功能高分辨率X射線衍射儀EXPLORER，均可用于職業(yè)衛(wèi)生中游離二氧化硅的檢測(cè)。
提到X射線，大家首先想到的就是輻射安全問(wèn)題，是否有可能對(duì)人身造成傷害。 X射線是電離輻射，對(duì)人體是有損傷的，接觸射線的時(shí)間越長(zhǎng)，距離越近致病的危險(xiǎn)性就越大，例如拍胸片、透視或者做CT等等。如果長(zhǎng)時(shí)間的接觸X射線，因?yàn)閄射線的輻射劑量可以在身體內(nèi)累積，所以就會(huì)大量破壞人體的白細(xì)胞，使人體血液中的白細(xì)胞數(shù)量減少，進(jìn)而導(dǎo)致機(jī)體免疫功能下降，使病原微生物容易侵入機(jī)體而發(fā)生疾病。 因此X射線類(lèi)設(shè)備的安全問(wèn)題尤為重要。GNR的殘余應(yīng)力分析儀裝有安全連鎖裝置，在射線及快門(mén)打開(kāi)的情況下，艙門(mén)是無(wú)法打開(kāi)的，如果強(qiáng)行打開(kāi)設(shè)備會(huì)立刻斷電，保護(hù)使用人員的安全。另外儀器的輻射劑量經(jīng)過(guò)歐盟的認(rèn)證，遠(yuǎn)低于國(guó)內(nèi)輻射劑量標(biāo)準(zhǔn)，讓使用人員免除后顧之憂(yōu)。 從輻射安全許可中可以看到，在射線出口10cm處，任何位置的輻射不超過(guò)88μSv/h，在射線出口處50cm，任何位置的輻射不超過(guò)3μSv/h，在射線出口處100cm，任何位置的輻射不超過(guò)0.5μSv/h. 我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)要求全年的輻射劑量要低于50mSv，也就是說(shuō)即使儀器全年都在使用，累計(jì)輻射劑量也才4.38mSv，要低于國(guó)標(biāo)10倍以上，所以GNR殘余應(yīng)力分析儀在輻射安全方面是完全有所保證的。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的技術(shù)開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)的分析需求。 STRESS-X殘余應(yīng)力分析儀能夠?qū)θ魏纬叽绾托螤畹臉悠愤M(jìn)行無(wú)損分析殘余應(yīng)力檢測(cè)，這要?dú)w功于其衍射單元安裝在6軸機(jī)械臂上。STRESS-X單元包括通過(guò)X射線衍射進(jìn)行殘余應(yīng)力或殘余奧氏體測(cè)量所需的所有條件。 在標(biāo)準(zhǔn)版本中，機(jī)械臂和相關(guān)附件安裝在堅(jiān)固的鋼制手推車(chē)上，該手推車(chē)裝有所有控制電子設(shè)備，用于管冷卻的水冷卻器和個(gè)人計(jì)算機(jī)等。STRESS-X可以在距機(jī)械臂中心895 mm的距離下測(cè)量位于平臺(tái)上的樣品或?qū)C(jī)械臂移出平臺(tái)來(lái)檢測(cè)大型樣品。
1. 加熱溫度 隨加熱溫度的提高，原子擴(kuò)散速率急劇加快，使得奧氏體化速度大大增加，形成所需時(shí)間縮短。 2. 加熱速度 加熱速度越快，孕育期縮短，奧氏體開(kāi)始轉(zhuǎn)變的溫度和轉(zhuǎn)變終了的溫度越高，轉(zhuǎn)變終了所需的時(shí)間越短。 3. 合金元素及鋼的化學(xué)成分 在一定的含碳量范圍內(nèi)，奧氏體中碳含量增高，晶粒長(zhǎng)大傾向增大。C%高，C在奧氏體中的擴(kuò)散速度以及Fe的自擴(kuò)散速度均增加，奧氏體晶粒長(zhǎng)大傾向增加，但C%超過(guò)一定量時(shí)，由于形成Fe3CII，阻礙奧氏體晶粒長(zhǎng)大。 鋼中加入鈦、釩、鈮、鋯、鋁等元素，有利于得到本質(zhì)細(xì)晶粒鋼，因?yàn)樘蓟�、氧化物和氮化物彌散分布在晶界上，能阻礙晶粒長(zhǎng)大。 錳和磷促進(jìn)晶粒長(zhǎng)大。強(qiáng)碳化物形成元素Ti、Zr、V、W、Nb等熔點(diǎn)較高，它們彌散分布在奧氏體中阻礙奧氏體晶粒長(zhǎng)大；非碳化物形成元素Si、Ni等對(duì)奧氏體晶粒長(zhǎng)大影響很小。 鈷、鎳等加快奧氏體化過(guò)程； 鉻、鉬、釩等減慢奧氏體化過(guò)程； 硅、鋁、錳等不影響奧氏體化過(guò)程。 由于合金元素的擴(kuò)散速度比碳慢得多，所以合金鋼的熱處理加熱溫度一般較高，保溫時(shí)間更長(zhǎng)。 4. 原始組織 原始組織中滲碳體為片狀時(shí)奧氏體形成速度快，且滲碳體間距越小，轉(zhuǎn)變速度越快，同時(shí)奧氏體晶粒中碳濃度梯度也大，所以長(zhǎng)大速度更快。球化退火態(tài)的粒狀珠光體，其相界面較少，因此奧氏體化慢。 影響奧氏體晶粒長(zhǎng)大的因素： a. 加熱溫度和保溫時(shí)間 由于奧氏體晶粒長(zhǎng)大與原子擴(kuò)散有密切關(guān)系，所以隨著溫度愈高，或在一定溫度下，保溫時(shí)間越長(zhǎng)，奧氏體晶粒也越粗大。 b. 加熱速度加熱溫度相同時(shí)，加熱速度越快，過(guò)熱度越大，奧氏體的實(shí)際形成溫度越高，形核率的增加大于長(zhǎng)大速度，使奧氏體晶粒越細(xì)小。生產(chǎn)上常采用快速加熱短時(shí)保溫工藝來(lái)獲得超細(xì)化晶粒。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)的分析需求。ARE X 為專(zhuān)用的殘余奧氏體分析儀，無(wú)需依靠 搭載模塊在常規(guī)XRD上 實(shí)現(xiàn)殘余奧氏體測(cè)試，具有操作簡(jiǎn)便、檢測(cè)速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對(duì)操作人員要求不高，做到輕松上手。
全反射X射線熒光(TXRF)具有優(yōu)異的檢出限（低至ppt或pg），與其它具有類(lèi)似元素檢出限的檢測(cè)手段相比，具有基體效應(yīng)小、樣品需求量小、操作相對(duì)簡(jiǎn)單、運(yùn)行成本低等優(yōu)勢(shì)。 TXRF一次可以對(duì)70多種元素進(jìn)行同時(shí)分析，這是原子吸收ETAAS和FAAS方法難以完成的。與質(zhì)譜儀中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析NAA等方法相比較，TXRF分析方法在快速、簡(jiǎn)便、經(jīng)濟(jì)、多元素同時(shí)分析、用樣量少、檢出限低、定量性好等方面有著綜合優(yōu)勢(shì)。同時(shí)，TXRF多采用內(nèi)標(biāo)法，無(wú)需特定標(biāo)準(zhǔn)樣品，儀器不需要額外冷卻設(shè)備，通常無(wú)需使用保護(hù)氣等輔助分析。因此，TXRF所分析的樣品較為廣泛。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)的分析需求。 X射線衍射儀（XRD）可測(cè)試粉末、薄膜等樣品的晶體結(jié)構(gòu)等指標(biāo)，多應(yīng)用于分子結(jié)構(gòu)分析及金屬相變研究；而全反射X熒光光譜儀（TXRF）的檢測(cè)限已達(dá)到皮克級(jí)別，其非破壞性分析特點(diǎn)應(yīng)用在痕量元素分析中，涉及環(huán)境、醫(yī)藥、半導(dǎo)體、核工業(yè)、石油化工等行業(yè)；為迎合工業(yè)市場(chǎng)需求而設(shè)計(jì)制造的專(zhuān)用殘余應(yīng)力分析儀、殘余奧氏體分析儀，近年來(lái)被廣泛應(yīng)用在高端材料檢測(cè)領(lǐng)域，其操作的便捷性頗受行業(yè)青睞。
游離二氧化硅指巖石或礦物中沒(méi)有同金屬或金屬氧化物結(jié)合的二氧化硅（α-石英硅）。 含有游離二氧化硅的粉塵進(jìn)入人體肺內(nèi)后，在二氧化硅的毒作用下，引起肺巨噬細(xì)胞解壞死度、導(dǎo)致肺組織纖維化，形成膠原纖維結(jié)節(jié)，使肺組織彈性喪失，硬度增大，造成通氣障礙，影響肺的呼吸活動(dòng)，即人吸入游離二氧化硅的粉塵可引起矽肺。矽肺是塵肺中進(jìn)展快、危害重的一種。粉塵中含有游離二氧化硅的量越高，對(duì)人體危害越大。我國(guó)關(guān)于矽塵的衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)在評(píng)價(jià)粉塵危害時(shí)，明確規(guī)定要檢測(cè)游離二氧化硅的含量。如GBZ/T192.4-2007《工作場(chǎng)所空氣中粉塵測(cè)定第4部分：游離二氧化硅含量》確規(guī)定了要檢測(cè)游離二氧化硅的含量。 目前我國(guó)制定的礦塵中游離二氧化硅含量的測(cè)定方法主要有以下三種：(1) 物理的X光衍射法。(2) 紅外光譜分析法。 (3) 化學(xué)的焦磷酸質(zhì)量法。這三種方法中，焦磷酸質(zhì)量法由于實(shí)驗(yàn)周期長(zhǎng)，步驟繁鎖，對(duì)操作人員要求也較高，難以實(shí)驗(yàn)快速檢測(cè)；紅外光譜法由于只能檢測(cè)α-型游離二氧化硅，且操作過(guò)程中難以混勻，不適合多類(lèi)型的樣品檢測(cè)。X射線衍射方法分析速度快，能分析多種不同類(lèi)型的樣品，儀器操作相對(duì)簡(jiǎn)單，在游離二氧化硅檢測(cè)中運(yùn)用越來(lái)越廣泛。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的技術(shù)開(kāi)發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號(hào)滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)的分析需求。 可用于桌面的臺(tái)式衍射儀ERUOPE、性?xún)r(jià)比超高的大功率衍射儀APD 2000 PRO、功能強(qiáng)大的多功能高分辨率X射線衍射儀EXPLORER，均可用于職業(yè)衛(wèi)生中游離二氧化硅的檢測(cè)。
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